設(shè)備：膜厚儀F50-XT/ F50-UV

廠商：FILMETRICS

用途：依靠F50的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以很簡(jiǎn)單快速地獲得最大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以非常快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并測(cè)試厚度。

技術(shù)指標(biāo):

l  最大適用4英寸晶圓測(cè)試，最大測(cè)試范圍0-10um

l  測(cè)量n和k值最小厚度要求：50nm

l  波長(zhǎng)范圍：190-1100nm

l  準(zhǔn)確度：0.2%或1nm

l  精度：0.02nm

l  穩(wěn)定性:0.05nm

• 上一篇：沒(méi)有了
• 下一篇：單晶XRD測(cè)試